STM32H7从外部Flash取指令时有校验机制么？

LeoMe

RT，类似STM32H750和RT1050这类片子，XIP通过QSPI从NOR FLash启动，或者走类似FSMC从外部NAND启动，硬件取指令数据后在片子内部有硬件的校验机制么？

之前NORFlash的SPI好像还挺容易收到干扰导致读取的数据bit翻转或者一串FF 00的，如果是XIP这些错误的指令没校验直接给译码执行，那不是直接死机了？

hexenzhou

H750应该没有，新的带trustzone或者ecc之类的芯片才有。

LeoMe

hexenzhou 发表于 2024-12-11 11:04
H750应该没有，新的带trustzone或者ecc之类的芯片才有。

如果这样的话，XIP好像挺脆弱的，旁边接触器或者继电器动作干扰一个bit能把MCU直接干趴下了

eric2013

ECC校验当前主要是内部Flash和内部RAM里面有，安全关键的代码运行，可以加载到内部RAM里面跑，这个有校验。

fxyc87

mcu的内部flash同样也有这样的问题啊，所以看门狗是干啥的？

glory

照这个逻辑，目前的嵌入式linux都在SDRAM里运行，SDRAM接口速度高，管脚多，是不是也很不稳定呢？
事实上，绝大多数计算系统，包括服务器，PC，工控机，手机等等，都是在片外RAM里运行的。
你的忧虑对象不是XIP，应该是在走线设计、信号匹配、干扰屏蔽上努力。

lixin91985

这问题，所有叠封flash的MCU都有这个问题，尤其是国内的蓝牙芯片。

如果是启动完成后，还好，大不了WDT重启。如果是WDT初始化之前 读取的数据出现错误，那就只能重新上电和Rst了。

PC机是因为有ECC校验机制。不然早跑天上去了。

这个问题很多朋友公司 都吃过大亏。产品出货后，大批量的死机变砖头。
而这个问题又没办法复现。

hexenzhou

已经吃过亏了，在有电机的工控环境，xip这种方案极容易被干扰，然后进入haldfalult，所以如果没有重复取址并带有校验机制的mcu，在复杂环境下慎用xip方案。

LeoMe

hexenzhou 发表于 2024-12-12 20:04
已经吃过亏了，在有电机的工控环境，xip这种方案极容易被干扰，然后进入haldfalult，所以如果没有重复取址 ...

好的老铁，等的这是你这句话，放弃H750了

LeoMe

eric2013 发表于 2024-12-12 09:31
ECC校验当前主要是内部Flash和内部RAM里面有，安全关键的代码运行，可以加载到内部RAM里面跑，这个有校验。

从RAM运行考虑过，问题是我都选了大RAM了，再吧程序放到RAM里执行结果RAM又不够了，有点儿绕远了的感觉，干脆扔掉H750咬牙上H743

LeoMe

fxyc87 发表于 2024-12-12 09:46
mcu的内部flash同样也有这样的问题啊，所以看门狗是干啥的？

能不死机尽量不死机哈，看门狗只是个死机后补救的措施，工控的板子一旦重启了会停掉好多东西

eric2013

LeoMe 发表于 2024-12-13 08:45
从RAM运行考虑过，问题是我都选了大RAM了，再吧程序放到RAM里执行结果RAM又不够了，有点儿绕远了的感觉， ...

不用全部加载，关键代码加载就行了，大部分都是数据，程序有效代码几百KB就已经非常大了。