NASA继续使用Teensy 4.1开发板进行辐射效应测试

eric2013

https://forum.pjrc.com/index.php ... h-teensy-4-1.70979/

注：Teensy就是基于NXP i.MX RT的开发板

曾使用Teensy 3.1、3.2、3.6、4.0，以及现在的4.1，成功执行了大量数字器件的单粒子效应测试，直接支持了NASA的飞行计划和研究任务。基于Teensy的测试主要用于评估器件对错误现象的敏感性，例如单粒子翻转（内存中的比特翻转）、单粒子功能中断（实质上是系统崩溃）、单粒子闩锁（砰！），或为其他相关测试提供数字激励和硬件控制。我们利用全国各地的回旋加速器和同步加速器模拟太空环境，进行这些测试，以表征元器件特性、验证其是否适合航天任务，或评估新技术——测试中使用的粒子能量范围涵盖约1 MeV的质子至近3 GeV的金离子。

尽管基于FPGA的测试方案在许多场景下更优雅，且对于高速、高IO或时序要求严格的测试几乎是必需的，但Teensy是快速搭建测试系统的绝佳选择——硬件平台成本低廉，即使考虑到测试控制器本身会暴露在辐射下需要更换，也十分经济。Arduino工具链对团队成员来说非常熟悉，几乎没有学习曲线，而Teensy提供了强大的性能（以及以太网或USB 2.0数据传输路径），使得部分测试成为可能。

早期阶段，在劳伦斯伯克利国家实验室使用Teensy 3.1测试一款相对简单的、带插座的平面NAND闪存：


升级到T3.6测试首批3D NAND存储器之一，在德州农工大学为即将进行的太空望远镜任务开展测试：


使用Teensy 4.0测试用于太阳物理学任务的商用现成地磁传感器，配套的覆铜PCB为内部自制：


借助快速原型技术（Teensy 4.0、覆铜PCB和3D打印测试夹具，用于固定改作斩光器的光学快门）协助解决一起在轨异常：


以及最近，为某项研究项目测试一款8 Tb、96层3D NAND闪存，使用了基于Teensy 4.1的新型测试板：